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In situ Nanoparticle Diagnostics by Multi-Wavelength Rayleigh-Mie Scattering Ellipsometry

In situ Nanoparticle Diagnostics by Multi-Wavelength Rayleigh-Mie Scattering Ellipsometry
Gebauer, G., Winter, J.
New J. Phys 2003, 5, 38.1-38.17

microParticles GmbH, Volmerstr. 9A, UTZ, Geb.3.5.1, D-12489 Berlin, Tel.: +49 30-6392 2565 Fax: +49 30-6392 2555

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