In situ Nanoparticle Diagnostics by Multi-Wavelength Rayleigh-Mie Scattering Ellipsometry
Gebauer, G., Winter, J.
New J. Phys 2003, 5, 38.1-38.17
In situ Nanoparticle Diagnostics by Multi-Wavelength Rayleigh-Mie Scattering Ellipsometry
Gebauer, G., Winter, J.
New J. Phys 2003, 5, 38.1-38.17
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